一、金屬光譜分析儀測(cè)量范圍：
Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd,
Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。
測(cè)量礦種:各種金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦例如：鐵礦、銅礦、鋅礦、鈦礦、釩礦、鉻礦、錳礦、鈷礦、鎳礦、鉛礦、鉬礦、鎂礦、鋁礦、銀礦、金礦、鉑礦、硫礦、砷礦、硒礦等
二、金屬光譜分析儀主要應(yīng)用
布魯克手持光譜儀主要分析礦體、礦塊、礦粉、礦渣、精礦、粗礦、尾礦；還可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥漿；粉塵、灰塵、過(guò)濾物、薄膜層等。
三、主要特性：
簡(jiǎn)體中文界面
Windows 5.0操作系統(tǒng)
開機(jī)后不需校準(zhǔn)就可直接測(cè)量
采用布魯克技術(shù)的XFlash®SDD檢測(cè)器
分析元素zui小從Mg開始，達(dá)40多種。
分析范圍：ppm級(jí)至50%以上（與礦樣種類有關(guān)）
實(shí)時(shí)分析數(shù)據(jù)和圖譜顯示
XRF軟件具有定性、定量分析功能，控制光管的電壓和電流，使測(cè)量范圍更廣
測(cè)量*無(wú)損，不受樣品形狀限制
儀器自動(dòng)校準(zhǔn)，自動(dòng)存儲(chǔ)測(cè)量數(shù)據(jù)，無(wú)需人工干預(yù)
主機(jī)一體化設(shè)計(jì)，高強(qiáng)度密封，防水、防塵，抗沖擊
可選擇一鍵式定時(shí)測(cè)量
內(nèi)置Bruker專業(yè)操作軟件，計(jì)算和顯示速度快
儀器適應(yīng)高溫，低溫，潮濕，雨天、沙塵等惡劣環(huán)境
在開機(jī)狀態(tài)下長(zhǎng)時(shí)間不測(cè)量時(shí)，儀器會(huì)自動(dòng)進(jìn)入待機(jī)狀態(tài)，以節(jié)省電源和保護(hù)儀器
X射線管耐用性強(qiáng)，采用Peltier半導(dǎo)體恒溫制冷技術(shù)更增加了使用壽命
選配GPS定位系統(tǒng)，可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖
萬(wàn)能FP模式，適于各種礦石樣品，大大縮短現(xiàn)場(chǎng)工作時(shí)間。自動(dòng)補(bǔ)償元素間干擾。
免費(fèi)軟件升級(jí)。
產(chǎn)品型號(hào)：S1 TURBOSD
