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產(chǎn)品展示

手持式合金分析儀

簡(jiǎn)要描述:S1 TURBOSDLE手持式合金分析儀是世界*臺(tái)配置了硅漂移探測(cè)器(SDD)的手持X 射線(xiàn)熒光光譜儀,檢測(cè)器能量分辨率高達(dá) 140eV,大幅度地提高了分析速度和靈敏度。 能夠在空氣模式下,無(wú)需真空或氦氣沖洗即可測(cè)量鋁合金中的Mg、Si,鎳合金中的Al以 及鋼材中的Si、S、P。

  • 產(chǎn)品型號(hào):s1 turbo sd
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2024-10-08
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:2638
詳情介紹

一、手持式合金分析儀技術(shù)參數(shù)

重量:1.7kg
尺寸:30cm(L) x 10cm(W) x 28cm(H)
分析范圍:Ti-U之間的所有元素
激發(fā)源:X射線(xiàn)管(陶瓷),Ag靶,zui大電壓40kV
語(yǔ)言:漢語(yǔ),英語(yǔ),韓語(yǔ),日語(yǔ),俄語(yǔ),德語(yǔ),意大利語(yǔ),法語(yǔ),荷蘭語(yǔ),西班牙語(yǔ),墨西哥語(yǔ)等(用戶(hù)自選)
檢測(cè)器:高分辨率SI-PIN檢測(cè)器
操作系統(tǒng):HP掌上電腦:Windows 5.0
Bruker 軟件
冷卻系統(tǒng)
Peltier恒溫冷卻系統(tǒng),保證儀器的使用壽命和精度
電源
可交、直流供電;2節(jié)充電鋰電池,可連續(xù)工作8-12小時(shí)
電池充電器
交流充電器:110/220V,50/60Hz
顯示器
240x320彩顯; 65,536像素; 背景光可調(diào); 觸摸屏
數(shù)據(jù)傳輸
USB、紅外、藍(lán)牙、無(wú)線(xiàn)局域網(wǎng)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
主機(jī):512MB
存儲(chǔ)卡:CF/SD/MSD卡,2GB,能存儲(chǔ)幾百萬(wàn)個(gè)牌號(hào)和測(cè)量數(shù)據(jù)
高溫測(cè)量
熱表面適配器,可測(cè)量500℃高溫樣品
安全
密碼保護(hù),設(shè)有多級(jí)安全鎖.
運(yùn)輸
減震、抗壓、防水、密封儀器箱
質(zhì)保期
2年
環(huán)境范圍
-20℃~ 50℃
認(rèn)證
二、手持式合金分析儀優(yōu)點(diǎn):
無(wú)損、定量分析
快速、便攜、可靠
能夠分析Al, Mg, Si
可編輯用戶(hù)數(shù)據(jù)庫(kù)
測(cè)量元素范圍可低至Mg(12)
微軟實(shí)時(shí)系統(tǒng)(MS CE)軟件提供圖譜分析
高靈敏度,可檢測(cè)低至PPM的微量元素
PXRF軟件還具有定性和定量分析功能,控制光管的電壓和電流,使之適用于大范圍的元素測(cè)量。
NASA/Bruker共有真空-無(wú)氦氣消耗,精度可靠。

三、手持合金分析儀的原理:

  手持式礦石元素分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù),可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素, 同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線(xiàn)的發(fā)射波長(zhǎng)(λ)及能量(E)確定具體元素,而通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線(xiàn)的密度來(lái)確定此元素的量。如此一來(lái),XRF度普術(shù)就能測(cè)定物質(zhì)的元素構(gòu)成。

  每一個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子(負(fù)電微粒)運(yùn)行在核子周?chē)能壍郎稀6移潆娮拥臄?shù)量等同于核子中的質(zhì)子(正電微粒)數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)我們則可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個(gè)原子數(shù)都對(duì)應(yīng)固定的元素名稱(chēng),例如鐵,元素名是Fe,原子數(shù)是26。 能量色散X螢光與波長(zhǎng)色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了zui里層三個(gè)電子軌道即K,L,M上的活動(dòng)情況,其中K軌道zui為接近核子,每個(gè)電子軌道則對(duì)應(yīng)某元素一個(gè)個(gè)特定的能量層。

  手持合金分析儀在XRF分析法中,從X光發(fā)射管里放射出來(lái)的高能初級(jí)射線(xiàn)光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將zui里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí),原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定,外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過(guò)程中,它們會(huì)釋放出能量,我們稱(chēng)之為二次X射線(xiàn)光子。

  而整個(gè)過(guò)程則稱(chēng)為螢光輻射。每種元素的二次射線(xiàn)都各有特征。而X射線(xiàn)光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過(guò)程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如,鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所放射出來(lái)的X射線(xiàn)的數(shù)量或者密度,能夠用來(lái)衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。

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